叶片测量解决方案

叶片测量的两个方案路线

1、IMS-Eq Blade比对仪叶片测量专机——扩展CMM至磨削/加工现场

适用于磨削车间，简单快速，精度高。   

采用比对测量

优点：

● 温湿度无要求   ● 无需高投入

● 抗细小粉尘     ● 无需气源

● 高速高精度     ● 支持测试

● 操作简单

2、IMS-CMM Blade三坐标叶片测量专机

适用于精测间或温度有保证的车间，简单快速，精度高。采用绝对测量

●检验员熟悉的方法

●兼容PC-DMIS叶片程序

●操作简单

●自主知识产权

●支持测试

测量参数包括：TWIST ANG、LE POS’N、CHORD WID、CV CONT MAX、CV   CONT MIN、CC CONT MAX、CC CONT MIN、LE CONT’R MIN、LE CONT’R   MAX、TE CONT’R MIN、TE CONT’R MAX、LE ANGLE、TE ANGLE … …

包括每个测量参数的实际值、理论值、偏差、+TOL、 -TOL等，与PC-DMIS Blade 保持一致。

IMS-EquatorTM 比对仪叶片专机系统组件   

艾默森三坐标测量机具有灵活的测量能力，配备IMS 10T测座及SP25扫描测头，

可以适应不同形状叶片的尺寸测量工作。从微型化的桌面式小三坐标到大尺寸

的多功能复合式三坐标，可满足叶片测量的不同场景。